如何使用平面平晶

平面平晶利用光波干涉现象测量平面度。将被测表面与平晶形成微小楔角，用单色光（或白光）照射，产生干涉条纹。条纹平直、平行、均匀表明平面度好；条纹弯曲则平面度差。白光下呈现彩色条纹。